鹽霧試驗箱規(guī)定了鹽霧箱的術(shù)語和定義、使用條件、技術(shù)要求、鹽霧試驗方法、檢驗規(guī)則及標尺、貯存。
鹽霧試驗箱通過考核對材料及其防護層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護層的工藝質(zhì)量比較，同時可考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力；該產(chǎn)品造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護層以及工業(yè)產(chǎn)品的鹽霧腐蝕試驗。通過標準的引用而成為本標準的條款，凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最親版本，幾是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。
鹽霧試驗箱參照標準：
GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Ka；鹽霧試驗方法
GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧交變（氯化鈉溶液）
GB/T 10125-1997 人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗
GB/T 10587-2006 鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB/T 1771-2007|色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測定
GB/T 1765-1979 測定耐濕熱、耐鹽霧、耐侯性 （人工加速） 的漆膜制備法
GB/T 12967.3-2008 鋁及鋁合金陽極氧化膜檢測方法 第3部分：銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS試驗）
GB/T 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備
GB 10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 鹽霧
以及等效的IEC、MIL、DIN、ASTM等相關(guān)標準 |
